Safety of laser products - Part 3: Guidance for laser displays and shows Sécurit?des appareils ?laser - Partie 3: Guide pour les manifestations et spectacles utilisant des lasers First Edition
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L51(激光器件)
Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-16: Examinations and measurements - Endface radius of spherically polished ferrules
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50(光电子器件综合) | 发布日期：2003-01-15 实施日期：2003-01-15
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode.Part 13: Temperature coefficient for radiant power
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2015-10-10 实施日期：2016-04-01
Photovoltaic devices - Part 7: Computation of the spectral mismatch correction for measurements of photovoltaic devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50(光电子器件综合) | 实施日期：2009-12-01
Detail specification for Types A6-02A-M2/Z2 and A6-01B-M1/Z1 metal case for semiconductor photocouplers
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L54(半导体光敏器件) | 发布日期：1996-06-14 实施日期：1996-10-01
Test methods for single-pass loss coefficient of laser robs
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L51(激光器件) | 发布日期：2011-12-30 实施日期：2012-05-01
Screening specifications for illumination LEDS in spare sciences
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2016-08-29 实施日期：2016-11-01
Detail specification for electronic components--Monochrome display tube of type 31SG7Y14 (Applicable for certification)
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：1991-04-08 实施日期：1992-01-01
Standard Specification for Solar Simulation for Terrestrial Photovoltaic Testing
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50(光电子器件综合) | 实施日期：2005-04-01
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for output optical power temperature coefficient
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2007-04-05 实施日期：1986-10-01
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for capacitance
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2007-04-05 实施日期：1986-10-01
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for forward series resistance
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2007-04-05 实施日期：1986-10-01
Outline demensions for semiconductor light-emitting devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：1986-02-18 实施日期：1986-10-01
Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part2-7:Tests-Bending moment
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50(光电子器件综合) | 实施日期：2003-05-01
Optics and Optical Instruments - Lasers and Laser-Related Equipment - Test Methods for Laser Beam Power (Energy) Density Distribution (First Edition
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L51(激光器件) | 发布日期：2000-04-01 实施日期：2000-04-01
Optical radiation safety of LEDs-Part 1:Safety requirements and classification
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L53(半导体发光器件) | 发布日期：2021-03-09 实施日期：2021-10-01
Standard Practice for Laser Technologies for Measurement of Cross-Sectional Shape of Pipeline and Conduit by Non-Rotating Laser Projector and CCTV Camera System
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L51(激光器件)
Standard Practice for Laser Technologies for Direct Measurement of Cross Sectional Shape of Pipeline and Conduit by Rotating Laser Diodes and CCTV Camera System
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50/54()
Standard Practice for Laser Technologies for Direct Measurement of Cross Sectional Shape of Pipeline and Conduit by Rotating Laser Diodes and CCTV Camera System
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L50(光电子器件综合)
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L54(半导体光敏器件)
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