Semiconductor optoelectronic devices —Detail specification for power white light-emitting diodes on silicon substrate
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L45(微波、毫米波二、三极管) | 发布日期:2022-10-20 实施日期:2023-01-01
Accelerated life test method for LED
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L45(微波、毫米波二、三极管) | 发布日期:2018-06-07 实施日期:2019-01-01
Semiconductor Convertors General Requirements and Line Commutated Convertors Part 1-3: Transformers and Reactors (Edition 3.0)
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L43(半导体整流器件) | 发布日期:1991-04-15 实施日期:1991-04-15
Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L42(半导体三极管) | 实施日期:1999-12-10
Detail specification for silicon PNP low frequency low voltage high power transistors,Type 3CD162 and 3Cd362 ...
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L42(半导体三极管) | 实施日期:1984-03-01
Detail specification for silicon PNP epitaxial planar low frequency high power transistors,Type 3CD647 ...
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L42(半导体三极管) | 实施日期:1984-03-01
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Single gate Field-effect transistors.
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L44(场效应器件)
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40/49() | 发布日期:2019-04-01
Graphical symbols for diagrams. Part 5 : Semiconductors and electron tubes
中国标准分类号: L40(半导体分立器件综合) ; K04(基础标准和通用方法)
Semiconductor devices - Flexible and strechable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40/49()
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40(半导体分立器件综合) | 实施日期:2002-04-01
Environmental Requirements for Electronic Equipments
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40/49() | 发布日期:1986-11-19 实施日期:1986-11-19
Detail specification for silicon NPN epitaxial planar superhigh frequency low noise low power transistors,Tuype 3DG148 ...
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L42(半导体三极管) | 实施日期:1983-10-01
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L41(半导体二极管)
Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40(半导体分立器件综合) | 实施日期:2006-01-01
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