JIS C6704-2005

人造水晶

Synthetic quartz crystal

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他) | 实施日期：2005-01-20

JIS H7312-2007

Superconductivity -- Residual resistance ratio measurement -- Residual resistance ratio of Nb3Sn composite superconductors

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他) | 实施日期：2007-02-20

JIS C5630-2-2009

半导体器件 微电机器件 第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 2:Tensile testing method of thin film materials

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40,L04() | 实施日期：2009-03-20

JIS C7031-1993

小型信号半导体二极管的测定方法

Measuring methods for small signal diodes

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L41(半导体二极管)

JIS C7032-1993

晶体管通则

General rules for transistors

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管)

JIS B0191-1986

日语文字自动处理机术语

Glossary of terms relating to word processor for Japanese characters

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合)

JIS C6704-2009

人造水晶

Synthetic quartz crystal

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他) | 实施日期：2009-12-21

JIS H7301-1997

超导体的试验方法－直流临界电流的试验方法－铜基,铌,钛合金复合超导体

Superconductivity -- Test method -- Part 1: Critical current -- Section 1: DC critical current of Cu/Nb-Ti composite superconductors

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他)

JIS C6790-2010

瓦特计法对夹紧螺栓的兰格文震动的负荷测试

Load test of a bolt-clamped langevin vibratoe using wattmeter method

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他) | 发布日期：2010-05-20  实施日期：2010-05-20

JIS C7030-1993

晶体管的测定方法

Measuring methods for transistors

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合)

JIS H7311-2006

Superconductivity -- AC loss measurements -- Magnetometer methods for hysteresis loss in Cu/Nb-Ti multifilamentary composites

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L47(其他) | 实施日期：2006-07-20

JIS C5630-3-2009

半导体器件 微电机器件 第3部分:拉伸测试用薄膜标准试验片

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 3:Thin film standard test piece for tensile testing

中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40,L04() | 实施日期：2009-03-20