中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L45(微波、毫米波二、三极管) | 发布日期:1993-03-29 实施日期:1993-12-01
Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40(半导体分立器件综合) | 发布日期:2008-02-16 实施日期:2008-06-01
Test guidelines of single event effects induced by heavy ions of semiconductor devices for space applications
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40(半导体分立器件综合) | 发布日期:2008-02-16 实施日期:2008-06-01
中国标准分类号: L(电子元器件与信息技术) ; L40(半导体分立器件综合) | 发布日期:1993-03-30 实施日期:1993-12-01
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