Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合) | 实施日期：2002-04-01
Detail specification for silicon NPN epitaxial planar low power switching transistors,Type 3DK28
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管) | 实施日期：1982-05-01
Detail specification for electronic component. Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification type 3CG21B,3CG21C
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管) | 发布日期：1986-05-06 实施日期：1986-12-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合) | 发布日期：2003-02-20 实施日期：2003-02-20
Detail specification for electronic component. Bipolar transistor for ambient-rated high-frequency amplification of type 3DG107
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管) | 发布日期：1988-06-25 实施日期：1988-12-01
Detail specification for electronic components. Case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification, type 3DD102B
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管) | 发布日期：1987-03-27 实施日期：1987-11-01
Semiconductor devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L41(半导体二极管)
The series and type spectrum for helium neon lasers
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L48() | 发布日期：1985-01-29 实施日期：1985-09-01
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid arra...
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合)
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合)
Semiconductor discrete devices and integrated circuits
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L42(半导体三极管)
Thyristor valves for high voltage direct current (HVDC) power transmission - Part 1: Electrical testing
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L43(半导体整流器件)
Thyristor valves for high voltage direct current (HVDC) power transmission - Part 1: Electrical testing
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L43(半导体整流器件)
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Ambient rated rectifer diodes.
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L43(半导体整流器件)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合) | 实施日期：2011-05-01
Power electronics for electrical transmission and distribution systems. Testing of thyristor valves for static VAR compensators
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L43(半导体整流器件) | 发布日期：2003-03-27 实施日期：2003-03-27
Letter symbols for discrete semiconductor devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L40(半导体分立器件综合) | 发布日期：1989-03-31 实施日期：1990-04-01
Sectional specification for super-twisted nematic liquid crystal display devices
中国标准分类号： L(电子元器件与信息技术) ； L49() | 实施日期：1996-04-01
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