Instrument components--Vocabulary
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N04(基础标准与通用方法) | 发布日期：1992-12-17 实施日期：1993-08-01
General guide for EPMA quantitative analysis
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N33(电子光学与其他物理光学仪器) | 实施日期：1994-12-01
Instrument components - Vocabulary
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N05(仪器、仪表用材料和元件) | 发布日期：2010-12-01 实施日期：2011-05-01
General guide of quantitative analysis by EPMA
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N53(电化学、热化学、光学式分析仪器) | 发布日期：2008-06-16 实施日期：2009-03-01
Electronic static rail weighbridge
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N13(机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表) | 发布日期：2008-12-30 实施日期：2009-09-01
Silicon piezoresistive pressure-sensitive chip
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N05(仪器、仪表用材料和元件) | 发布日期：2012-11-05 实施日期：2013-02-15
Quantitative method for electron probe microanalysis of metals and alloys
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N33(电子光学与其他物理光学仪器) | 实施日期：1996-02-01
Testing method of fiber optic devices for image transmission
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N30(光学仪器综合) | 发布日期：2011-06-16 实施日期：2011-11-01
Silicon-based pressure sensors
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N11(温度与压力仪表) | 发布日期：2012-11-05 实施日期：2013-02-15
Silicon capacitive pressure sensor
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N11(温度与压力仪表) | 发布日期：2012-11-05 实施日期：2013-02-15
Quantitative method for electron probe microanalysis of metals and alloys
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N53(电化学、热化学、光学式分析仪器) | 发布日期：2008-08-20 实施日期：2009-04-01
Optics and optical instruments - Optical coatings - Part 1：Definitions
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N30(光学仪器综合) | 发布日期：2011-01-14 实施日期：2011-06-01
Electrical and electronic measurement equipment - Expression of performance
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N20(电工仪器、仪表综合) | 发布日期：2010-12-01 实施日期：2011-05-01
Electronic balance
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N61(实验室基础设备) | 发布日期：2011-05-22 实施日期：2011-10-01
The analysis method of corrosive layer on ferrous metals of ship with EPMA
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N53(电化学、热化学、光学式分析仪器) | 发布日期：2008-06-16 实施日期：2009-03-01
Electronic weighing meter
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N13(机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表) | 发布日期：2008-12-30 实施日期：2009-09-01
Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N33(电子光学与其他物理光学仪器) | 发布日期：2002-11-11 实施日期：2003-06-01
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N53(电化学、热化学、光学式分析仪器) | 发布日期：2012-07-31 实施日期：2013-02-01
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
中国标准分类号： N(仪器、仪表) ； N32(放大镜与显微镜) | 发布日期：2011-12-30 实施日期：2012-08-01
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